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粒徑分析儀使用步驟。大塚電子---構(gòu)成有機(jī)電致發(fā)光器件的材料包括電極材料（征集材料和負(fù)極材料）、發(fā)光材料、載流子傳輸材料（電子傳輸材料和空穴傳輸材料）。粒徑分析儀有毒氣體報(bào)警器，有機(jī)發(fā)光材料為有機(jī)電致發(fā)光器件的核心材料，理想的有機(jī)電致發(fā)光材料在性能上具有量子效率高、載流子傳輸能力強(qiáng)、易于成膜、對(duì)光和熱穩(wěn)定性好、具備適宜的分子能級(jí)。其中量子效率作為有機(jī)發(fā)光材料的關(guān)鍵指標(biāo)之一，量子效率測(cè)定在有機(jī)發(fā)光材料的研發(fā)階段顯得尤為重要。粒徑分析儀，大塚電子的QE-2000和QE-2100量子效率測(cè)量系統(tǒng)可以在短時(shí)間內(nèi)完成粉末、液體、薄膜材料的外量子效率、內(nèi)量子效率、吸收率、透過(guò)率、反射率、發(fā)光光譜、激發(fā)光譜、色演算等指標(biāo)的測(cè)量及解析。粒徑分析儀，有機(jī)小分子薄膜可通過(guò)真空熱蒸鍍形成，真空蒸鍍過(guò)程需要對(duì)膜厚進(jìn)行監(jiān)測(cè)。大塚電子的MCPD膜厚測(cè)量系統(tǒng)可以對(duì)真空腔體內(nèi)的樣品膜厚進(jìn)行監(jiān)測(cè)。

全自動(dòng)激光粒度儀是廣泛運(yùn)用于建材、冶金、化工、食品等行業(yè)中的粉體粒度分析工作中的粒度分析儀器,它利用顆粒對(duì)光波散射現(xiàn)象,即大顆粒產(chǎn)生的散射角小,小顆粒產(chǎn)生的散射角大的原理,測(cè)量粉體的粒度分布,同時(shí)采用計(jì)算機(jī)分析測(cè)試數(shù)據(jù),統(tǒng)計(jì)出多個(gè)粒度范圍的顆粒百分?jǐn)?shù),蕞后以二維或三維的方式反映出全部顆粒的大小分布。煤粉是一種粘附性粉體，煤粉顆粒團(tuán)聚力很強(qiáng)，不溶于水。在發(fā)電廠酒精報(bào)警器，煤粉是作為燃料，為鍋爐提供熱能；在鑄造行業(yè)，煤粉作為一種型砂添加劑。廣泛應(yīng)用水泥、發(fā)電廠等領(lǐng)域。

當(dāng)光束遇到顆粒阻擋時(shí)，一部分光將發(fā)生散射現(xiàn)象。粒徑分析儀粒徑檢測(cè)儀，散射光的傳播方向?qū)⑴c主光束的傳播方向形成一個(gè)夾角θ。散射理論和結(jié)果證明，散射角θ的大小與顆粒的大小有關(guān)，顆粒越大，產(chǎn)生的散射光的θ角就越??；顆粒越小，產(chǎn)生的散射光的θ角就越大。進(jìn)一步研究表明，散射光的強(qiáng)度代表該粒徑顆粒的數(shù)量。這樣，測(cè)量不同角度上的散射光的強(qiáng)度，就可以得到樣品的粒度分布了。粒徑分析儀，在針對(duì)顆粒樣品進(jìn)行粒度測(cè)試時(shí)，無(wú)論使用的是哪一種測(cè)試儀器，其對(duì)樣品的制備與數(shù)據(jù)分析均是保證正確測(cè)試的首要條件。樣品制備是正式進(jìn)行粒度測(cè)試前樣品及測(cè)試條件的預(yù)備過(guò)程，包括樣品的采集、縮分、分析樣品用量的確定、分散介質(zhì)、分散劑的選擇、分散劑用量的確定及分散效果檢查等；而數(shù)據(jù)處理是對(duì)測(cè)試原始文件的轉(zhuǎn)化與簡(jiǎn)單分析，接下來(lái)分別談?wù)剺悠分苽浜蛿?shù)據(jù)處理。

多方法混合系統(tǒng)指的是將激光衍射法與其它方法混合而設(shè)計(jì)的粒度儀，激光衍射法部分只采用分布于幾十度角度范圍的檢測(cè)器，再輔以其它方法如PCS等，一般幾微米以上用激光衍射法測(cè)量，而幾微米以下的顆粒用其它方法測(cè)量，粒徑分析儀，理論上講粒徑下限取決于輔助方法的下限，這種方法的優(yōu)點(diǎn)是成本低，總的測(cè)量范圍較寬，但因?yàn)椴煌姆椒ㄋ蟮臏y(cè)量條件如樣品濃度等都不一樣，通常難以兼顧，另外由于不同方法間存在的系統(tǒng)誤差，在兩種方法的數(shù)據(jù)擬合區(qū)域往往較難得到理想的結(jié)果，除非測(cè)量前已經(jīng)知道樣品粒徑只落在衍射法范圍內(nèi)或輔助方法的范圍內(nèi)。粒徑分析儀，另外多方法混合系統(tǒng)需采用兩個(gè)不同的樣品池粒徑檢測(cè)儀，這對(duì)于濕法測(cè)量來(lái)講不是問(wèn)題，因?yàn)闃悠房梢匝h(huán)，但對(duì)干法而言樣品只能一次性通過(guò)樣品池而不能循環(huán)，不能用兩種方法同時(shí)測(cè)量粒徑檢測(cè)儀，因而多種方法混合系統(tǒng)在干法測(cè)量時(shí)的粒徑下限只能到幾百納米。

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